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        薄膜测厚仪

        赛默飞化学分析仪器
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        薄膜测厚仪

        薄膜测厚仪概述

        薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪,非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
        C11295 多点纳米膜厚测量仪

        C11295 多点纳米膜厚测量仪

        品牌:滨松光子
        型号:C11295
        23374,C11295 多点纳米膜厚测量仪,3503,C11295,57,,http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/900102193/goods_img/199797_0.jpg,滨松光子,Array,
        RoHS检测仪器/无卤检测仪

        RoHS检测仪器/无卤检测仪

        品牌:深圳禾苗
        型号:E8-SDD
        166623,RoHS检测仪器/无卤检测仪,10581,E8-SDD,57,,http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/4687/Company/Goods/20170608-362949962.jpg,深圳禾苗,Array,
        全自动高精度测厚仪思克专利

        全自动高精度测厚仪思克专利

        品牌:济南思克
        型号:1801
        167292,全自动高精度测厚仪思克专利,10411,1801,57,,http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/4481/Company/Goods/20170623-1260787661.jpg,济南思克,Array,
        众测薄膜测厚仪THK-01

        众测薄膜测厚仪THK-01

        品牌:济?#29616;?#27979;
        型号:THK-01
        250602,众测薄膜测厚仪THK-01,11957,THK-01,57,,http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/9308/Company/Goods/20180319-2102815095.jpg,济?#29616;?#27979;,Array,
        PET薄膜厚度测试方法

        PET薄膜厚度测试方法

        品牌:济南思克
        型号:THI-1801
        263741,PET薄膜厚度测试方法,10411,THI-1801,57,,http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/4481/Company/Goods/20180804-copy_5b655e801e11b.jpg,济南思克,Array,
        薄膜测厚仪查询条件
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        薄膜测厚仪

        薄膜测厚仪

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: THI-1801
        • 产地:济南
        • 包装检测仪器,请选思克测试!思克将回报您更多意想不到的操作体验和服务。思克测试,诚?#29260;?#19994;!更多信息,请致电垂询!SYSTESTER思克,专业+创新+技术+产品+服务;SYSTESTER思克,More than your think!

        RoHS检测仪器/无卤检测仪

        RoHS检测仪器/无卤检测仪

        • 品牌: 深圳禾苗
        • 型号: E8-SDD
        • 产地:深圳
        • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外?#29976;?#24180;EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术?#38382;?#20840;面超过国内外同类仪器。

        全自动高精度测厚仪思克专利

        全自动高精度测厚仪思克专利

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 全自动高精度测厚仪思克专利适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        薄膜全自动高精度测厚仪(思克)

        薄膜全自动高精度测厚仪(思克)

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 薄膜全自动高精度测厚仪(思克)
        • 产地:济南
        • 薄膜全自动高精度测厚仪(思克)适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        高精度触摸屏厚度仪

        高精度触摸屏厚度仪

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 测厚仪
        • 产地:济南
        • 高精度触摸屏厚度仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        PET薄膜厚度测试方法

        PET薄膜厚度测试方法

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: THI-1801
        • 产地:济南
        • PET薄膜厚度测试方法适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        C11295 多点纳米膜厚测量仪

        C11295 多点纳米膜厚测量仪

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C11295
        • 产地:日本
        • C11295 多点纳米膜厚测量仪C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半?#32487;?#21046;造过程中的薄膜厚度,以及安装在半?#32487;?#21046;造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量,?#37096;?#20197;在膜厚测量?#22411;?#26102;测量反射率(?#24178;?#29575;)、目标颜色以及暂?#21271;?#21270;。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性多达15点同时测量无参照物工作通过光强波动校正功能实现长时间稳定测量提醒及警报功能(通过或失败)反射(?#24178;?和光谱测量高速、高准确度实时测量不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制?#38382;?#22411;号C11295-XX*1可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 100 μm*2测量可重复性(玻璃)0.02 nm*3 *4测量准确度(玻璃)±0.4 %*4 *5光源氙灯测量波长320 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距离10 mm*4可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析测量时间19 ms/点*7光纤接口形状SMA测量点数2~15外部控制功能Ethernet接口USB 2.0(主单元与电脑接口)RS-232C(光源与电脑接口)电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功?#33041;?30W(2通道)~450W(15通道)*1:-XX,表示测点数*2:以 SiO2折射率1.5来转换*3:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标?#35745;?#24046;*4:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*5:可保证的测量范围?#24615;赩LSI标准测量保证书中*6:卤素灯型为C11295-XXH*7:连续数据采集时间不包括分析时间

        C11665-01 微米膜厚测量仪

        C11665-01 微米膜厚测量仪

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C11665-01
        • 产地:日本
        • C11665-01 微米膜厚测量仪C11665-01型光学微米测厚仪是一款非接触薄膜测厚仪器,它将光源、探测器和数据分析模块集成到一个箱体里,实现了紧凑型设计。在半?#32487;?#34892;业,TSV技术的广泛应用使得基底测厚成为至关重要的方面,与此同时半?#32487;?#34180;膜工业正将连接层制作的越来越薄。这些领域的进步需要1 μm到300 μm范围内高准确度的膜厚测量。C11665-01可对多种类型的材料(硅基底,薄膜等等)进行测厚,测量范围为0.5 μm 到 700 μm,这也是半?#32487;?#21644;薄膜制造领域经常使用应用的厚度。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作尺寸紧凑,节省空间高速、高准确度不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制?#38382;?#22411;号C11665-01可测膜厚范围(玻璃)0.5 μm to 700 μm*1可测膜厚范围(硅)0.5 μm to 300 μm*2测量可重复性(硅)0.1 nm*3 *4测量准确度(硅)±1 %*4 *5光源LED测量波长940 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距离5 mm*4可测层数最大10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*6光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C / Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗85W*1:SiO2薄膜测量特性*2:Si薄膜测量特性*3:测量6 μm厚硅薄膜时的标?#35745;?#24046;*4:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*5:在标准量具的测量保证范围内*6:连续数据采集时间不包括分析时间

        C11011-01W 微米膜厚测量仪

        C11011-01W 微米膜厚测量仪

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C11011-01W
        • 产地:日本
        • C11011-01W 微米膜厚测量仪C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,选配的?#25104;?#31995;统可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性利用红外光度测定进行非?#35813;?#26679;品测量测量速度高达60 Hz测量带图纹晶圆和带保护膜的晶圆长工作距离?#25104;?#21151;能可外部控制?#38382;?#22411;号C11011-01W可测膜厚范围(玻璃)25 μm to 2900 μm*1可测膜厚范围(硅)10 μm to 1200 μm*2测量可重复性(硅)100 nm*3测量准确度(硅)< 500 μm: ±0.5 μm; > 500 μm: ±0.1 %*3光源红外LED(1300 nm)光斑尺寸φ60 μm*4工作距离155 mm*4可测层数一层(?#37096;?#22810;层测量)分析峰值探测测量时间22.2 ms/点*5外部控制功能RS-232C / PIPE接口USB2.0电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗50W*1:SiO2薄膜测量特性*2:Si薄膜测量特性*3:测量6 μm厚硅薄膜时的标?#35745;?#24046;*4:可选配1000mm工作距离的模型C11011-01WL*5:连续数据采集时间不包括分析时间

        C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

        C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C11627-01
        • 产地:日本
        • C11627-01 纳米膜厚测量仪系列C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、?#27490;?#20809;度计和数据分析单元集成为一个单元,所以其配置紧凑,仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑,节省空间,适合安装进用户的系统中,可进行多种目标的测量。此外,该仪器为无参照物测量,因此省略了烦人的参照物测量,可长时间稳定地进行高速、高准确度测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作尺寸紧凑,节省空间高速、高准确度不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制?#38382;?#22411;号C11627-01可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源LED测量波长420 nm to 720 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C,Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗70W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标?#35745;?#24046;*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围?#24615;赩LSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

        C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

        C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C10178-01
        • 产地:日本
        • C10178-01 纳米膜厚测量仪系列C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干,可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪(PMA)为探测器,在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同?#20445;?#36824;可以测量量子收益、反射率、?#24178;?#29575;以及吸收系数等多种项目。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性高速、高准确度实时测量?#25104;?#21151;能不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制与特定附件配合,可测量量子收益、反射率、?#24178;?#29575;以及吸收系数等。?#38382;?#22411;号C10178-01测量模型标准型(通用测量)可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.01 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状φ12套筒型外部控制功能RS-232C, 通过PIPE或Ethernet进行内部软件数据传输接口USB2.0电源AC100 V to 120 V/ AC200 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗250W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标?#35745;?#24046;*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围?#24615;赩LSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

        C12562 纳米膜厚测量仪系列

        C12562 纳米膜厚测量仪系列

        • 品牌: 北京滨松光子
        • 型号: C12562
        • 产地:日本
        • C12562 纳米膜厚测量仪系列C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜,而可测范围达到10nm到1100μm,因此可用来测量多种目标。此外,该测量仪可达到100Hz的高速测量,因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性可测量10nm薄膜缩短测量周期(?#24503;?#39640;达100Hz)增强型外部触发(适?#32454;?#36895;测量)涵?#24378;?#27874;长范围(400 nm到1100 nm)软件增加了简化测量功能可进行双面分析不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制?#38382;?#22411;号C12562-02可测膜厚范围(玻璃)10 nm to 100 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间3 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C, Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗80W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标?#35745;?#24046;*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围?#24615;赩LSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

        广州?#32487;?#28034;层测厚仪

        广州?#32487;?#28034;层测厚仪

        • 品牌: 型号: 微涂层测厚仪 CM-1210-200N (铝基,微涂层)
        • 产地:广州
        • 专用于微小工件上的涂层测量。 * 非铁基涂层测厚仪。 * 具有单次和连续两种测量方式可选。 * 公/英制单位转换。 * 具有手动关机、自动关机和?#36153;?#25552;示等功能。 * 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。

        广州?#32487;?#34180;膜测厚仪粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)

        广州?#32487;?#34180;膜测厚仪粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)

        • 品牌: 型号: 粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)
        • 产地:广州
        • 仪器采用计算机技术,符合国标GB/T 6062及ISO,DIN,ANSI和JIS?#21335;?#26631;准。测量工件表面粗糙度?#20445;?#23558;传感器放在工件被测面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比列的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数?#33268;?#27874;和?#38382;?#35745;算,测量结果在液晶显示器显示出来,同时可以与PC机通讯,实现数据分析和打印。

        聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单

        聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: THI-1801
        • 产地:济南
        • 更多聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单信息,请致电垂询!SYSTESTER思克,专业+创新+技术+产品+服务;SYSTESTER思克,More than your think!

        FSM - 应力及厚度在线量测系统

        FSM - 应力及厚度在线量测系统

        • 品牌: 美国Frontier Semiconductor
        • 型号: FSM 900 系列/FSM 128 系列
        • 产地:美国
        • 产品简介FSM 900 系?#34892;?#22411;材料在高温下很容易氧化。他们还容易产生氣體及发生物质变化,FSM 900TC-Vac 型号给工艺提供了一个封闭的?#23588;?#33108;。它可以应用於完全的充氣环境或高真空的模式。集成化的 FSM 900TC-Vac 系统可以快速协助新材料处理热稳定和热负载。? 温度範围: 可达9000C (200mm 及 300mm晶圆)? Thermal Desorption Spectroscopy (TDS -系统可?#20113;?#29420;立的TDS作用- 分析整个或破损的晶?#29627;?#30417;测在温度循壞内的各種各样的氣體?#27431;擰? 低K,铜和其他薄膜材料的表徵? 温度高达9000C? 在真空或惰性氣體中操作  FSM 128 系列所有FSM 128 系列都可以配备自动平均基板厚度测量功能,?#20113;?#20272;用於应力评估的输入晶圆。? 128NT : 可以测试200mm以下的晶圆? 128L :可以测试300mm以下的晶圆? 128G :可以测试450mm以下的晶圆? 128 C2C: 弹夹到弹夹的全自动设?#31119;?#21487;以测量300mm以下的晶圆? 半导體?#25512;?#26495;应用的弓型和球型薄膜应力绘图? 非接觸全晶片应力绘图? 双波长雷射器?#25442;?#25216;术  尺寸精度量测 (DIMENSIONAL METROLOGY)无损的光学探头检测晶圆厚度,TSV,bumps 和其他需要测量的需求。FSM 8108 VITE 系列 ? 晶圆的厚度,薄膜的厚度及TTV? 绝对厚度,形状,翘曲? Si, GaAs 等? 磁带,玻璃,蓝宝石 等? 多種材料的Stacks? Through Silicon Via (TSV) - 显微镜下可选 TSV的测量及Trench 深度测量? Bumps 的高度测量? 可选粗糙度的刻蚀或抛光的晶圆的测量? 可选薄膜厚度的测量FSM 413 系列? 使用非接觸式的测量方式来量测基板的厚度? XY方向精度达到0.5微米? 自动化的系统? 可编程的系统? 可测量TSV和Bump? 用微波?#38382;?#27979;量矽的深度? 極佳的稳定性及重複性FSM 拉曼優?#25340;蔥录?#26415;及工具自动化? 带领技术创新的紧凑型量测系统? 用於设备分析方面,性能優越的光谱解析度 (0.1cm-1)? 由1988年开始,在晶圆工廠自动化中成功地控制测量技术      

        供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

        供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

        • 品牌: 深圳禾苗
        • 型号: E8-SDD
        • 产地:深圳
        • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外?#29976;?#24180;EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术?#38382;?#20840;面超过国内外同类仪器。

        供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

        供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

        • 品牌: 深圳禾苗
        • 型号: E8
        • 产地:深圳
        • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外?#29976;?#24180;EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术?#38382;?#20840;面超过国内外同类仪器。

        供应RoHS检测仪器、无卤检测仪

        供应RoHS检测仪器、无卤检测仪

        • 品牌: 深圳禾苗
        • 型号: E8
        • 产地:深圳
        • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外?#29976;?#24180;EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术?#38382;?#20840;面超过国内外同类仪器。

        美国布鲁克台阶仪

        美国布鲁克台阶仪

        • 品牌: 德国布鲁克
        • 型号: DektakXT
        • 产地:美国
        • 纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量?#25512;?#25972;度等精密测量,应用于微电子、半?#32487;濉?#22826;阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学?#33455;?#21644;材料科学领域

        众测薄膜测厚仪THK-01

        众测薄膜测厚仪THK-01

        • 品牌: 济?#29616;?#27979;
        • 型号: THK-01
        • 产地:济南
        • ★测头采用标准M2.5螺?#23631;?#25509;方式,可连接各?#20013;问?#30334;分表,千分表表?#26041;?#34892;测量; ★可拆卸螺?#23631;?#25509;配重块,可满足各种标?#23478;?#27714;及非标压力定制; ★?#24230;?#24335;高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机?#25442;?#30028;面,为用户提供舒适流畅的操作体验 ★标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求 ★触控屏操作界面 ★7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 ★进口高速高精度采样芯片,?#34892;?#20445;证测试准确性与实时性 ★内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 ★标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 ★?#32454;?#25353;照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 ★高精度测厚传感器,精度高重?#20013;?#22909; ★可采用标准厚度计量工具标定、检验 ★多种测试量程可选 ★实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标?#35745;?#24046;等分析数据,方便用户进行判断

        ThetaMetrisis薄膜测厚仪

        ThetaMetrisis薄膜测厚仪

        • 品牌: 希腊ThetaMetrisis
        • 型号: FR-Basic UV/VIS
        • 产地?#21512;?#33098;
        • ?名词:膜厚仪   膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几?#28201;?#31243;或介?#25910;?#23556;率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。应用领域:   1、半?#32487;?#26230;片   2、液晶产品(CS,LGP,BIU)    3、微机电系统   4、光纤产品   5、数据存储盘(HDD,DVD,CD)   6、材料?#33455;?  7、精密加工表面   8、生物医学工程产品特点1 、非接触式测量:避免物件受损。   2 、三维表面测量:表面高度测量范围为 2nm ---500μm。    3 、多重?#21491;?#38236;片:方便物镜的快速切换。   4 、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达0.1nm。   5、高速数?#20013;?#21495;处理器:实现测量仅需?#35813;脛印?  6 、扫描仪:闭环控制系统。   7、工作台:气动装置、抗震、抗压。   8 、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算Type 光谱范围厚度测量范围** FR-Basic UV/VIS 200nm - 850nm 2nm - 90μm FR-Basic VIS/NIR 350nm – 1000nm 20nm - 150μm FR-Basic RED/NIR 600nm – 1100nm 100nm - 500μm FR-Basic UV/NIR-HR 200nm - 1100nm 2nm - 110μm FR-Basic UV/NIR-SG 200nm - 950nm 2nm - 110μm FR-Basic VIS/NIR-SG 350nm - 1100nm 10nm - 300μm FR-Basic NIR 900nm - 1700nm 100nm - 200μm FR-Basic D 350nm – 1700nm 20nm – 200μm

        PVD/CVD涂层(镀层)磨损率测试仪

        PVD/CVD涂层(镀层)磨损率测试仪

        • 品牌: 奥地利安东帕
        • 型号: CAW
        • 产地:奥地利
        • 产品简介球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并?#19994;统?#26412;的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石?#24085;Q心?#28082;的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹?#21360;?#38543;后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何?#38382;?#22312;得知了X和Y的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚?#28595;?#25439;测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。?#24515;?#28082;以恒定速?#39318;?#21160;滴加在球体与试样界面,构成一个稳定的三体磨损系统。 Calowear不是一次性的磨损试样表面,而是将磨损过程分成几个不同的阶段来完成。磨损坑的形状以及法向力的数值在每阶段的磨损后进行记录。由此,薄膜以及基体的磨损率可以精确的计算出来。 技术?#38382;?#24037;作台尺寸: 50 x 50 mm 转动速率: 60 to 1200 rpm 标准磨球?#26412;叮?20, 25, 30mm 磨损时间范围: 10 - 90 sec or 1 - 9 min主要特点:薄膜与基体的磨损率测量 膜厚测量 适用于多种材料 可以导出数据进行更深入分析(例如: EXCEL 等)

        TECLOCK指针式厚度计DM-210

        TECLOCK指针式厚度计DM-210

        • 品牌: 日本得乐
        • 型号: DM-210
        • 产地:日本
        • TECLOCK指针式厚度计DM-210测量范围可以从5mm到230mm(继足使用)。对应的作业大幅度扩张。

        TECLOCK指针式膜厚计DM-264

        TECLOCK指针式膜厚计DM-264

        • 品牌: 日本得乐
        • 型号: DM-264
        • 产地:日本
        • TECLOCK指针式膜厚计DM-264常用于检测一些薄膜的厚度,测量值精准?#34892;В?#27979;量效果稳定。

        高精度蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪

        高精度蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 济南思克提供蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪价格、型号、?#38382;?#21450;厂家信息

        THI专用锂电隔膜高精度测厚仪

        THI专用锂电隔膜高精度测厚仪

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • THI专用锂电隔膜高精度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        思克测试高品质封口强度测试仪

        思克测试高品质封口强度测试仪

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 思克测试高品质封口强度测试仪为思克自主专利技术,集专利等多种自主知识产权技术于一身,?#24230;?#24335;软件,扁平化设计,直观,操作方便;符合QB/T 2358(ZBY 28004)、ASTM F2029、YBB 00122003等多项标准。

        薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克

        薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 为您提供薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于薄膜测厚仪/THI-1801/济南思?#24605;?#26684;、型号、?#38382;?#21450;厂家信息

        薄膜测厚仪技术?#38382;?#20215;格

        薄膜测厚仪技术?#38382;?#20215;格

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 薄膜测厚仪技术?#38382;?#20215;格适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)

        电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)

        • 品牌: 济南思克
        • 型号: 1801
        • 产地:济南
        • 电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

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